９月６日~８日まで名古屋工業大学で日本機械学会 2010年度年次大会が開催されました．田畑研究室からは土屋，脇田，谷山が参加し，２件の発表を行いました．
高信頼マイクロ・ナノデバイスのための設計・計測技術(1)：シリコンの破壊と疲労
- T0302-1-1 (110)単結晶Siの引張試験における破壊の結晶異方性評価 ◎脇田 拓，平井 義和，菅野 公二，田畑 修，土屋 智由，池原 毅
高信頼マイクロ・ナノデバイスのための設計・計測技術(2)：応力・ひずみ計測
- T0302-2-2 顕微ラマン分光を用いた単結晶シリコン振動子の局所応力解析 ◎谷山 彰，平井 義和，菅野 公二，田畑 修，池原 毅，土屋 智由